Der Lehrstuhl FAPS hatte die Ehre, an der 29. IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) an der Università degli Studi di Padova teilzunehmen. Unser wissenschaftlicher Mitarbeiter Till Sindel präsentierte dabei die Forschungsergebnisse zur Arbeit: „Data-driven Bed of Nails Wear Analysis for the In-Circuit-Testing of Electronic Modules“.

Die Veröffentlichung entstand in Zusammenarbeit mit Dr.-Ing. Hüseyin Erdogan, Prof. Dr. Jörg Franke sowie unseren geschätzten Kollegen Nils Thielen, Felix Mahr und Tobias Reichenstein.

Ein herzliches Dankeschön gilt den Organisatoren, Vortragenden und der ETFA Conference, die der FAPS mit spannenden Einblicken und Möglichkeiten zum Networking eine bereichernde Erfahrung ermöglicht haben!

Kontakt: