Am 01.02. wurden am Lehrstuhl FAPS im Forschungsbereich der Elektronikproduktion zwei neue Messgeräte in Betrieb genommen. Das Laserscann-Mikroskop VK-X3050 der Firma Keyence erlaubt mittels Laser und Fokusvariation Höhenmessungen im Nanometerbereich und ersetzt das bisher in Nürnberg eingesetzte Keyence VK 9710.

Für größere Baugruppen und –Elemente wurde ein 3D-Profilmoter des Typs VK-6200 in Betrieb genommen. Hiermit können große Flächen in wenigen Sekunden und mit einer Genauigkeit von bis zu 1 µm aufgenommen und analysiert werden.

Die Messgeräte finden unter anderem Einsatz in der Vermessung der Geometrie additiv gefertigter Strukturen, Analyse verschiedenartiger Lötverbindungen, der Vermessung von Oberflächenrauheiten sowie der Analyse von Partikeln in Mikro- und Nanosuspensionen.

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