Aktuelle Trends und Herausforderungen in der Kabel- und Kontaktverarbeitung erfordern die Entwicklung einer intelligenten und holistischen Qualitätskontrolle von Crimpverbindungen. Ziel des AiF-ZIM geförderten Projekts OptiCrimp ist die Entwicklung eines automatischen optischen Inspektionssystems (AOI) für die automatisierte On-the-fly-Qualitätsüberwachung von Crimpverbindungen. Das Entwicklungsziel ist ein AOI für die flexible Integration in bestehende Crimpmaschinen und vollautomatisierte Crimpanlagen ohne Taktzeiteinbußen. Die Neuheit der Projektidee ist definiert durch den Einsatz von Deep Learning als Kerntechnologie für die automatisierte Verarbeitung und Auswertung der Bilddaten.

Im Rahmen des Projektes ist die Firma Schäfer Werkzeug- und Sondermaschinenbau GmbH hauptverantwortlich für die Entwicklung der Hardware und des Traceability-Systems sowie die Peripheriegestaltung. Der Lehrstuhl FAPS fokussiert sich auf die Deep Learning-basierte optische Qualitätsüberwachung. Die Ziele sind die Beherrschung der variantenreichen Fertigung und eine Methodik, um auch bei unbekannten Varianten zuverlässige Aussagen zu treffen.

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