Im Zuge der gemeinsamen Forschungsarbeiten zwischen dem FAPS Lehrstuhl und dem Elektronikwerk der Siemens AG in Amberg wurde der Beitrag „Enhanced X-Ray Inspection of Solder Joints in SMT Electronics Production using Convolutional Neural Networks“ von Konstantin Schmidt, Nils Thielen, Reinhardt Seidel, Christian Voigt, Dr. Jochen Bönig, Dr. Gunter Beitinger und Prof. Dr.-Ing. Jörg Franke ausgezeichnet. Das Komitee des International Symposium for Design and and Technology in Electronics Packaging (SIITME) vergab den Award „Excellent Presentation Award for Young Scientists“. Die SIITME 2020 wurde aufgrund der Corona-Pandemie erstmalig als Web-Konferenz durchgeführt.

Das ausgezeichnete Paper/Vortrag erforscht den Einsatz von Neuronalen Netzen im Bereich der Röntgenprüfung der SMT Fertigung von modernster Automatisierungshardware am Siemens Standort Amberg (DI FA MF). Mittels eines Computer Vision Ansatzes für die autonome Bildanalyse kann die Abhängigkeit von Expertenwissen reduziert und die unzureichende Prüfschärfe der Anlagen optimiert werden. Der Prototyp des Prüfsystems wird aktuell zur Erprobung im Elektronikwerk Amberg der Siemens AG getestet. Besonderer Dank gilt dem Siemens Leitwerk in Amberg als innovativer Industriepartner für die intensive fachliche Zusammenarbeit, großzügige Bereitstellung von Infrastruktur/Ressourcen und die Unterstützung bei der Verwirklichung digitaler Ideen in der Fabrikautomatisierung.

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